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sphere-3000 光学元件反射率测量仪

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产品介绍

sphere-3000光学元件反射率测量仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率，适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量，还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
 

仪器特点：

  • cie颜色测定 x y色度图，x，y，l,a,b，饱和度，主波长等；
  • 显微测定微小区域的反射率，物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）；
  • 消除背面反射光，无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率；

技术参数：

 sphere-3000（ii型）sphere-3000（iii型）sphere-3000-nir
探测器hamamatsu背照式2d-ccdhamamatsu背照式2d-ccd(制冷)hamamatsu ingaas探测器(制冷)
检测范围380~1100nm380~1100nm900~1700nm
波长分辨率1nm1nm3nm
信噪比450:11000:110000:1
相对检测误差＜0.75%＜0.5%＜0.5%
被测物再现性±0.1%以下(380nm~410nm)
±0.05%以下(410nm~900nm)		±0.1%以下(380nm~400nm)
±0.05%以下(400nm~900nm)		±0.1%以下
（1000~1650nm）
测定方法与标准物比较测定
单次测量时间＜1s
精度0.3nm
被测物n.a0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时)
被测物尺寸直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时)
厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)厚度>0.1mm(使用50×对物镜时)
被测物测定范围约φ100um(使用10×对物镜时) 约φ60um(使用20×对物镜时)
约φ30um(使用50×对物镜时)
设备重量约22kg（光源外置）
设备尺寸300(w)×550(d)×570(h)mm
使用环境水平且无振动的场所；温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露；
操作系统windows7~windows10
软件分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定

 

")); 光纤光谱仪
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